梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平

产品描述：

一、梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果；
二、全自动校准技术(FACT),温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准，以及全自动线性校准技术，获得精确称量结果；
三、变量程设置（Deltarange)和双量程（Dualrange)设计，满足不同样品的称量需求；
四、触摸屏设计（Touchscreen),方便称量菜单和参数设置；
五、网络称盘（Smartgrid)、获得快速、稳定的称量结果；
六、易巧称量组件（Ergoclips),满足使用不同去皮容器的称量需求；
七、可移动的显示控制终端，方便使用；
八、具备*可拆卸的防风罩设计，实现快速清洁；
九、内置RS232C通讯接口选件槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；
十、优化天平适应性的称量参数设置、满足不同称量环境要求；

十一、具有基础称量、统计称量、配方称量、密度测定等内置应用程序
十二、E-loader软件，实现天平软件的即使更新。

技术指标