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天星ED-400型涡流测厚仪

天星ED-400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

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天星ED-400型涡流测厚仪

天星ED-400型涡流测厚仪适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

天星ED-400型涡流测厚仪自1993年开始生产以来,伴随着我国铝加工行业的成长,其自身也在不断改进和提高,目前,已生产了ED200型、ED300型和ED400型三代产品,天星ED-400型涡流测厚仪是一代产品,其产品质量和测试精度达到国外仪器水平,其耐用性非常突出,超过国内外仪器。天星测厚仪以良好的质量,及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和认可,天星测厚仪在铝型材行业的市场占有率超过90%,成为该行业的产品。

仪器特点

天星ED-400型涡流测厚仪与ED300型相比,具有如下特点:

量程宽-    ED400型涡流测厚仪量程达到0500 μm

精度高-    测量精度达到2%

分辨率高-    分辨率达到0.1 μm

校正简便-    只校正“0”“50 μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。

基体导电率影响小-   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于12 μm

可靠性提高-   采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。

稳定性提高-   采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。

探头芯寿命长-   采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。

技术参数

型号

ED-400

测量范围

0500 μm

测量精度

050 μm±1 μm

50500 μm±2%

分辨率

050 μm0.1 μm

50500 μm1 μm

0500 μm1 μm(可选)

使用温度:

545

外形尺寸

150 mm×80 mm×30 mm

280 g

标准配置:

主机           

探头           

基体(6063铝合金)

校正箔片   一套4片(附检测报告)

仪器箱

可选附件:

备用探头

基体

校正箔片(附检测报告)

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