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梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平

梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平
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供应数量:
213
发布日期:
2021/7/19
有效日期:
2022/7/20
原 产 地:
瑞士
已获点击:
213
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  [详细资料]

梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平

产品描述:

一、梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果;
二、全自动校准技术(FACT),温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准,以及全自动线性校准技术,获得精确称量结果;
三、变量程设置(Deltarange)和双量程(Dualrange)设计,满足不同样品的称量需求;
四、触摸屏设计(Touchscreen),方便称量菜单和参数设置;
五、网络称盘(Smartgrid)、获得快速、稳定的称量结果;
六、易巧称量组件(Ergoclips),满足使用不同去皮容器的称量需求;
七、可移动的显示控制终端,方便使用;
八、具备完全可拆卸的防风罩设计,实现快速清洁;
九、内置RS232C通讯接口选件槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;
十、优化天平适应性的称量参数设置、满足不同称量环境要求;

十一、具有基础称量、统计称量、配方称量、密度测定等内置应用程序
十二、E-loader软件,实现天平软件的即使更新。

技术指标

型号 

XS205DU

zui大称量值 

81/220g

可读性

0.01/0.1mg

zui大称量值重复性(s)

0.1mg

10g重复性(s)  

0.05mg

线性  

±0.2mg

1/2zui大称量1)四角误差

0.3mg

灵敏度漂移

0.0004%

灵敏度温度漂移2) 

0.00015%/

灵敏度稳定性3)

0.0002%/a

典型称量时间4)

4s/1.5s

接口更新速率

23/s

防风罩有效高度(mm)

235

秤盘尺寸(mm)  

78×73

天平外形尺寸(W×D×H)(mm)

263×453×322

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