菲希尔XAN220型X射线荧光法镀层测厚仪

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220/222

X射线荧光测量仪，用于快速、无损分析黄金和银合金

产品特点：

菲希尔XAN220型X射线荧光法镀层测厚仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计；

配备固定的准直器和基本虑片，特别适用于贵金属分析

配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，适用于更复杂的多元素分析

由下至上的测量方向，可以zui简便地实现样品定位 

典型应用领域：

菲希尔XAN220型X射线荧光法镀层测厚仪在珠宝和钟表行业中的黄金和贵重金属分析

牙科行业中的材料合金分析

X射线测厚仪原理

XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。