德国菲希尔XAN250高性能X射线荧光测厚仪 高性能X射线荧光测量仪,配有先进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。 特点 高性能机型,具有强大的综合测量能力 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),还适用于更复杂的多元素分析 由下至上的测量方向,可以非常简便地实现样品定位 典型应用领域 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量 对有害物质进行痕量分析,例如,玩具中的铅含量 在珠宝和手表业,以及在金属精炼领域,对合金进行高精度的分析 用于高校研究和工业研发领域 |